Sweep-VEP: Eine neue Methode zur objektiven Visusprüfung bei Kleinkindern

Zusammenfassung Zur Prüfung des Sehvermögens von Kleinkindern sind das Preferential Looking und Registrieren von visuell evozierten kortikalen Potentialen (VEP) gebräuchlich. Beide Methoden erfordern eine gute Kooperation des untersuchten Kindes, da die verschiedenen Muster während mehreren Minuten fixiert werden müssen. Im Gegensatz dazu dauert eine VEP-Messung mit der 1985 erstmals beschriebenen Sweep-Technik nur wenige Sekunden. Wie beim herkömmlichen Muster-VEP werden Filterung und Fourier-Datenanalyse durchgeführt. Die kurze Untersuchungsdauer gewährleistet eine in den meisten Fällen problemlose Aufmerksamk…